Agilent 安捷伦网络分析仪的核心任务是测量散射参数，这些参数如同射频器件的"基因图谱"，完整描述了信号在器件中的传输与反射行为。以双端口器件为例，其四个基本S参数构成了一个完整的性能矩阵：反映输入端口匹配程度，表征正向传输效率，揭示反向隔离特性，体现输出端口阻抗状态。这种参数体系突破了传统电压电流测量的局限，在高频领域展现出独特优势——当信号频率超过1GHz时，直接测量电压电流变得异常困难，而S参数通过功率比值和相位差的方式，巧妙解决了高频测量难题。
现代矢量网络分析仪(VNA)采用双通道接收架构，其内部包含参考通道和测量通道。参考通道实时跟踪信号源输出，测量通道则捕获经过被测器件(DUT)后的信号。通过比较两个通道的幅度和相位差异，系统能够准确计算出S参数的复数值。这种测量方式不仅避免了传统标量网络分析仪只能获取幅度信息的局限，更能通过相位信息揭示信号传输的时延特性，为高速数字电路的信号完整性分析提供了关键数据支撑。
校准技术是Agilent 安捷伦网络分析仪实现高精度测量的核心保障。以SOLT(短路-开路-负载-直通)校准为例，系统通过测量四种标准件的响应，构建出包含12项误差因子的数学模型。这些误差因子涵盖了方向性误差、源匹配误差、反射跟踪误差等关键参数，通过复杂的矩阵运算实现测量结果的逐点修正。这种校准机制使得网络分析仪能够在复杂测试环境中保持亚毫分级精度，即使面对毫米波频段(30-300GHz)的严苛要求，依然能够提供可靠的测量数据。
